無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的半導體控溫解決方案

主(zhu)要產品(pin)包(bao)括半導(dao)體專?溫(wen)控(kong)設備(bei)(bei)、射流式?低溫(wen)沖擊測試機和半導(dao)體??藝廢?處(chu)理裝(zhuang)置等?設備(bei)(bei)，

?泛應?于半導體、LED、LCD、太(tai)陽能光伏(fu)等領域。

【 冠亞制冷 】半導體行業主營控溫產品：

半導體專溫(wen)控設(she)備(bei)

射流式?低溫沖(chong)擊測試機

半導體專用(yong)溫(wen)控(kong)設備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統

Chiller直冷型(xing)

循環風(feng)控溫裝置

半導體?低溫測試設(she)備

電?設備?溫低溫恒溫測(ce)試冷熱源

射流式高低溫沖擊(ji)測(ce)試機

快速(su)溫變控溫卡盤

數據中(zhong)心液冷解決(jue)方案

-100℃射流高低溫沖擊測試機 熱流儀

-100℃射流高低溫沖擊測試機 熱流儀

射流式高低溫沖擊測試(shi)機給芯片、模(mo)塊、集成電(dian)(dian)路板、電(dian)(dian)子元器件(jian)等提供(gong)精確(que)且快速的(de)環境溫度。

是對產品電(dian)性能(neng)測試、失效(xiao)分析、可(ke)靠性評估的儀器設備。

溫(wen)度(du)控制范圍(wei)：-120℃ 至+300℃，升降溫(wen)速率(lv)?常快速，150℃?-55℃＜10秒(miao)，zui??流量：30m3/h；

實(shi)(shi)時監控(kong)被測IC真(zhen)實(shi)(shi)溫度(du),實(shi)(shi)現閉環反(fan)饋，實(shi)(shi)時調整?體溫度(du)升降(jiang)溫時間可控(kong)，程序化操作、?動操作、遠程控(kong)制(zhi)

　　光模塊高低(di)溫測試設(she)(she)(she)備(bei)是(shi)用(yong)于測試半導體芯(xin)片在不同(tong)溫度環境(jing)下的性能和(he)可靠(kao)性的重要(yao)設(she)(she)(she)備(bei)，為了確保(bao)測試結果的準確性和(he)設(she)(she)(she)備(bei)的長(chang)期使用(yong)，需要(yao)進行定(ding)期的維護保(bao)養。下面(mian)將介紹光模塊高低(di)溫測試設(she)(she)(she)備(bei)的維護保(bao)養知識(shi)。

　　1、設備外觀檢查

　　定期檢查光模(mo)塊(kuai)高(gao)低溫測試設(she)備的(de)外(wai)觀，包括機器外(wai)殼(ke)、控制(zhi)面板、電源(yuan)線、電纜等。如有發現損壞或(huo)異常，應及時維(wei)修或(huo)更換。

　　2、設備(bei)內部(bu)清潔(jie)

　　清潔光模(mo)塊高低溫測試設(she)(she)備(bei)內(nei)(nei)部(bu)是(shi)維護保養的重要步驟(zou)。使(shi)用干燥的壓縮(suo)空氣(qi)或(huo)無塵布清潔設(she)(she)備(bei)內(nei)(nei)部(bu)，特別是(shi)冷凝器(qi)(qi)、散熱(re)器(qi)(qi)、電(dian)氣(qi)部(bu)件(jian)等部(bu)位(wei)。確保設(she)(she)備(bei)內(nei)(nei)部(bu)沒(mei)有(you)灰(hui)塵和污垢，以保證設(she)(she)備(bei)的散熱(re)效果和電(dian)氣(qi)性(xing)能。

　　3、設備管路檢查

　　檢查光模塊高低溫測試設備(bei)的管路系統(tong)，包括制冷和加(jia)熱部分。確保管路沒有(you)漏液(ye)、堵塞(sai)或老化等問題(ti)。如有(you)異常(chang)，應及時維修或更(geng)換。

　　4、設備(bei)電氣檢查

　　檢查光模(mo)塊高低溫測試設備(bei)的電氣部件(jian)，包括電源、電纜、接線端(duan)子、傳感(gan)器(qi)等。確保電氣部件(jian)沒(mei)有(you)過(guo)熱、松動或(huo)損壞等問題。如有(you)異常，應及時維修(xiu)或(huo)更換。