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簡要描(miao)述：【無錫冠亞(ya)】半(ban)導(dao)體控(kong)溫解決(jue)方案(an)主要產品(pin)包括半(ban)導(dao)體專?溫控(kong)設備(bei)、射流(liu)(liu)式?低(di)溫沖(chong)擊(ji)測(ce)(ce)試(shi)機(ji)和半(ban)導(dao)體??藝廢?處(chu)理(li)裝(zhuang)置等?設備(bei)，?泛應?于半(ban)導(dao)體、LED、LCD、太陽能(neng)光伏等領域。-60℃射流(liu)(liu)高低(di)溫沖(chong)擊(ji)測(ce)(ce)試(shi)機(ji) Chiller直冷型(xing)
產品型號：LTS-202廠(chang)商性質：生產廠家更新時間(jian)：2024-01-11訪 問 量：289| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半導體(ti)專?溫控設備、射(she)流式(shi)?低溫沖擊(ji)測試機和半導體(ti)??藝廢?處理裝(zhuang)置等?設備，
?泛應?于半導(dao)體、LED、LCD、太陽(yang)能光伏等領(ling)域(yu)。
半(ban)導體專(zhuan)溫控設備
射(she)流式(shi)?低溫沖擊測試機(ji)
半(ban)導(dao)體專用(yong)溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型
循(xun)環風控溫裝(zhuang)置
半導(dao)體(ti)?低溫(wen)測試(shi)設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱(re)源(yuan)
射流(liu)式高低溫沖擊測試機(ji)
快速溫(wen)變控溫(wen)卡盤(pan)
數(shu)據中(zhong)心(xin)液(ye)冷解決(jue)方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-60℃射流高低溫沖擊測試機 Chiller直冷型
-60℃射流高低溫沖擊測試機 Chiller直冷型
射流式高低溫沖(chong)擊測試機給芯片、模(mo)塊、集成電路(lu)板、電子元器件等提供精確且快速的環境溫度。
是對產品電性能測試、失效分析(xi)、可靠性評估的儀(yi)器設備。
溫度控制范圍(wei)：-120℃ 至+300℃，升降溫速(su)率?常快速(su)，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量(liang)：30m3/h；
實(shi)時(shi)監(jian)控(kong)被測IC真實(shi)溫(wen)(wen)(wen)度,實(shi)現閉環反饋，實(shi)時(shi)調整(zheng)?體溫(wen)(wen)(wen)度升降溫(wen)(wen)(wen)時(shi)間可(ke)控(kong)，程(cheng)序(xu)化操作、?動操作、遠程(cheng)控(kong)制
高低溫(wen)(wen)循環測試(shi)系統廣泛應用于材料科學、工程、質(zhi)量控制等領域(yu)，它(ta)能(neng)夠(gou)在不同的(de)溫(wen)(wen)度條件(jian)下對樣品進行測試(shi)，以評估其性(xing)能(neng)和可靠性(xing)。本文(wen)將介紹高低溫(wen)(wen)循環測試(shi)系統的(de)基本原理、特點、應用以及(ji)未來發(fa)展趨勢(shi)。
一、高低溫循環(huan)測試系(xi)統(tong)的基本原理
高低(di)溫(wen)循(xun)(xun)環測試系統基于(yu)溫(wen)度(du)循(xun)(xun)環控制原理，通過加熱和制冷(leng)(leng)技術，使(shi)樣品處于(yu)高溫(wen)和低(di)溫(wen)之間(jian)循(xun)(xun)環交(jiao)替的(de)環境中。在(zai)高溫(wen)狀態下(xia)(xia)，樣品會(hui)受到熱應(ying)力(li)的(de)作用，而在(zai)低(di)溫(wen)狀態下(xia)(xia)，則會(hui)受到冷(leng)(leng)應(ying)力(li)的(de)作用。通過這種方式，可以模擬樣品在(zai)不(bu)同溫(wen)度(du)下(xia)(xia)的(de)性能(neng)表現(xian)，并對其結構和性能(neng)進行深入研(yan)究。
二、高低溫(wen)循環測試(shi)系統的應(ying)用
高低溫循環測試系統(tong)在許多領域都(dou)有(you)廣(guang)泛的應用，如：
1、材(cai)料(liao)科學(xue)：通(tong)過對材(cai)料(liao)進行高(gao)低溫循環測(ce)試，可以研究材(cai)料(liao)的結構、性能和(he)可靠性，為新材(cai)料(liao)的研發提供重要依據。
2、電(dian)子產(chan)業(ye)：在電(dian)子產(chan)業(ye)中，高低溫(wen)循環測試系統被廣泛應用于(yu)對電(dian)子元器(qi)件的性能測試和可靠性評(ping)估(gu)，以確保產(chan)品的質量(liang)和穩定性。
