無(wu)錫(xi)冠(guan)亞射流式高(gao)低(di)(di)溫沖擊測試(shi)機給芯片、模塊、集成電路板、電子(zi)元器件(jian)等(deng)提(ti)供(gong)快速的(de)環境溫度。是對產品電性(xing)能測試(shi)、失(shi)效分析、可靠性(xing)評估*的(de)儀器設備。廣(guang)泛(fan)應用(yong)于半導(dao)體企業、航空航天、光通訊、高(gao)校、研究所等(deng)領域。高(gao)低(di)(di)溫循環測試(shi)系統注(zhu)意事(shi)項
更新時間:2024-01-06
廠商性質:生(sheng)產廠(chang)家(jia)
射流(liu)式高(gao)(gao)低溫沖(chong)擊(ji)測試(shi)機(ji)給(gei)芯片(pian)、模(mo)塊、集成(cheng)電路板、電子(zi)元器件等提供快速的(de)環境溫度。是對產(chan)品電性(xing)(xing)能(neng)測試(shi)、失效分析、可靠性(xing)(xing)評估*的(de)儀器設備。廣泛應用于半導(dao)體(ti)企業、航空航天、光通訊、高(gao)(gao)校、研究所(suo)等領域。IC芯片(pian)溫度沖(chong)擊(ji)測試(shi)機(ji)清潔(jie)保養
更新時間:2024-01-06
廠商性質:生產(chan)廠(chang)家