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簡(jian)要描述：【無錫冠亞】半導(dao)體(ti)控(kong)(kong)溫解決(jue)方案主要產品包(bao)括半導(dao)體(ti)專?溫控(kong)(kong)設(she)備、射流(liu)式?低溫沖擊測試機和半導(dao)體(ti)??藝廢?處理(li)裝置等(deng)?設(she)備，?泛(fan)應?于(yu)半導(dao)體(ti)、LED、LCD、太陽能光伏等(deng)領(ling)域。半導(dao)體(ti)溫控(kong)(kong)機Chiller 芯(xin)片循環制冷機
產(chan)品型(xing)號(hao)：LTS-202廠(chang)商(shang)性質：生產廠家更新時間：2024-01-11訪 問 量：263| 品牌 | 冠亞制冷 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半(ban)導(dao)體專?溫控設(she)備、射流式?低溫沖擊(ji)測試機和半(ban)導(dao)體??藝廢?處理裝(zhuang)置(zhi)等?設(she)備，
?泛(fan)應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半導體專溫(wen)控設備
射流式?低溫(wen)沖擊測試機
半導體(ti)專用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型(xing)
循環風控溫(wen)裝(zhuang)置
半導體?低溫測(ce)試設備
電?設(she)備?溫低溫恒溫測(ce)試冷熱源(yuan)
射(she)流式高低溫沖擊測(ce)試機
快(kuai)速溫(wen)變控溫(wen)卡(ka)盤(pan)
數據(ju)中心液(ye)冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
半導體溫控機Chiller 芯片循環制冷機
半導體溫控機Chiller 芯片循環制冷機
在(zai)半導體制造(zao)過程(cheng)中(zhong)，冠亞(ya)制冷的冷卻設備chiller的作用大家有目共睹。本文(wen)將介(jie)紹(shao)介(jie)質(zhi)刻蝕雙(shuang)通道chiller調(diao)試(shi)過程中的注意事(shi)項。
1、穩定運(yun)行：在調試過程中，始終(zhong)要(yao)牢記安全的(de)原則，避免可能(neng)導致安全事故的(de)行為。
2、記錄數據：對(dui)調試過程中的所有(you)數據進行記錄，以便后續分析(xi)和故障(zhang)排(pai)查。
3、遵循規范：嚴格遵守介(jie)質刻蝕雙通道(dao)chiller手冊和(he)相關規范進(jin)行調試，確保調試結果的(de)準確性和(he)可靠(kao)性。
4、團(tuan)隊協作(zuo)：在調(diao)試過程中，與團(tuan)隊成(cheng)員(yuan)保持(chi)良好(hao)的(de)溝(gou)通，共同解決(jue)問題，提高調(diao)試效率。
總之，介質刻蝕雙通道chiller的調試是一項(xiang)復雜的工作。在(zai)調試過(guo)程中，需要注意細節，嚴格遵守規范，確保(bao)設(she)備正常運行，為半導體制造提供穩(wen)定(ding)的冷卻(que)保(bao)障。
